芬蘭xstressX射線殘余應力測定儀

• 更新(xin)日(ri)期(qi)：2024-04-25
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芬蘭xstressX射線殘余應力測定(ding)儀原理：根據的(de)是布拉格(ge)定(ding)律，使用(yong)X射線來(lai)測量殘余應力和殘余奧氏體。

芬蘭xstressX射線殘余應力測定儀設計主要是針對應力測量用的，非常方便，對操作者來說也很安全。用戶可在測量中的任何狀態下訪問所有測量和測量數據。可在實驗室使用，也可在戶外使用，攜帶方便，一個人就可完成。只需要一個電源，從安裝到開始測量只需10分鐘左右。嵌入微軟處理器和通訊連接，把主單元與計算機用一根電纜連接上，就可進行其它擴展應用。

北京(jing)華(hua)歐世紀光電技術有限公司主要(yao)代(dai)理(li)各類殘余應力分(fen)析儀(yi)，磨削燒(shao)傷(shang)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，齒輪-軸(zhou)(zhou)承-曲軸(zhou)(zhou)-凸輪軸(zhou)(zhou)表面(mian)燒(shao)傷(shang)質量檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，便攜(xie)式(shi)應力檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，巴克(ke)豪(hao)森(sen)噪聲(sheng)法磨削燒(shao)傷(shang)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，磁彈(dan)儀(yi)等無(wu)損檢(jian)測(ce)(ce)(ce)設備(bei)。用戶(hu)主要(yao)面(mian)向(xiang)航天、航空，石化、電力，核工(gong)業、3D打印、鍋(guo)爐壓力容(rong)器，機(ji)械加(jia)工(gong)與制造(zao)，汽車制造(zao)，科研機(ji)構，高(gao)校等領域。

芬蘭xstressX射線殘余應力測定儀原理：根(gen)據的(de)是(shi)布拉(la)格原理，使用X射線來測量(liang)殘余應(ying)力(li)和殘余奧氏體，適用于多晶(jing)體材(cai)料(liao)。此設(she)計(ji)主要是針(zhen)對應力測(ce)量(liang)用(yong)的(de)，非常方便，對操作者來說也很安全(quan)。用(yong)戶可在測(ce)量(liang)中的(de)任何狀態(tai)下訪問(wen)所有測(ce)量(liang)和(he)測(ce)量(liang)數據(ju)。

殘余應力測定儀技術規格

主控單(dan)元

可(ke)自由調整。超緊湊設計

包(bao)括

-電源(yuan)

-電子部(bu)件(jian)和固件(jian)控制單元(yuan)

-高壓發(fa)生器

-自循(xun)環液體(ti)冷卻系統，不(bu)需外(wai)部供水

-確(que)保安全所需的所有互(hu)鎖裝置

安全性(xing)

控制殘余壓力

控制殘余應(ying)力

殘余(yu)奧氏體測量

實驗室精(jing)度

不需切割試樣

Stresstech Oy主要(yao)產品有：殘(can)余(yu)(yu)(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)分析儀(yi)，磨削(xue)燒傷檢測(ce)儀(yi)，激光小孔法(fa)應(ying)(ying)力(li)(li)檢測(ce)儀(yi)，巴克(ke)豪(hao)森噪(zao)聲分析儀(yi)，傳感器，常規檢測(ce)支(zhi)架(jia)，X射(she)(she)線衍射(she)(she)儀(yi)和檢測(ce)支(zhi)架(jia)，和小孔法(fa)殘(can)余(yu)(yu)(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)檢測(ce)儀(yi)。利(li)用巴克(ke)豪(hao)森噪(zao)聲在多種不同領域對磁性屬性進行研究，確定缺(que)陷存在與否和部件（像齒輪(lun)、軸承、凸輪(lun)軸、曲軸、萬向接頭、活塞銷等）殘(can)余(yu)(yu)(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)等級(ji)。X-射(she)(she)線應(ying)(ying)力(li)(li)分析儀(yi)運用的是X射(she)(she)線衍射(she)(she)技術來測(ce)量殘(can)余(yu)(yu)(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)和殘(can)余(yu)(yu)(yu)奧氏體含量。